加入会员，享更多权益>>
吴非
华中科技大学研究员、博导
吴非老师作为本次闪存测试与分析论坛出品人发表开场致辞，并简要介绍了闪存测试市场的现状与未来发展，值得一听。
NAND闪存芯片失效与预防
嘉宾：刘政林
SSD质量风险监测及SSD测评方法简介
嘉宾：阳小珊
分布式存储系统测试
嘉宾：张晓
如何解析真实世界工作负载(Real World Storage Workloads)&对存储系统或SSD盘的性能冲击
嘉宾：蒋伸亿
华中科大吴非研究员开场致辞
嘉宾：吴非
还没有小伙伴评论哦，快来抢个沙发吧。
演讲嘉宾:DOIT
免费
演讲嘉宾:Eden Kim
会员免费 1.99
演讲嘉宾:杨应麟
演讲嘉宾:骆建军
演讲嘉宾:孙开本
还没有小伙伴评论哦，快来抢个沙发吧。